J200激光诱导击穿光谱仪 LIBS

J200激光诱导击穿光谱仪（LIBS）具有简单直观的图形界面，专有的化学计量软件利用一组高度复杂的统计算法为我们的LIBS仪器增加了材料鉴别能力，非常适合实验室分析和生产监控应用，该仪器能够监测具有分析意义的单个或多个元素，坚固的仪器设计确保了每个激光脉冲的可重复测量结果，是挑战许多样品基质中定量元素分析的理想仪器，从而使我们的客户能够进行高度创新的LIBS研究。
设备应用须知：
1、使用J200 LIBS仪器快速监测原始锂离子电池电极材料的成分；
2、使用激光诱导击穿光谱法（LIBS）进行氟分析；
3、使用LIBS对半导体引线框架上的薄焊料镀层进行快速铅（Pb）分析；
4、使用激光诱导击穿光谱法（LIBS）对钢进行定量分析；
5、使用J200 LIBS仪器进行可重现的测量以实现可靠的质量控制；
6、使用激光诱导击穿光谱法（LIBS）快速分析采矿样品。
注意事项：
1、设备是属于精密型的仪器，在运输方面要轻拿轻放，防止发生碰撞现象；
2、设备在使用的过程中，要放置在平稳的地方，才能测试的准；
3、每次使用完要用干布子进行擦拭，不可用水直接冲洗。
J200激光诱导击穿光谱仪（LIBS）可配置为提供不同的激光烧蚀环境，可为每种分析情况提供*特且合适的解决方案，可确保我们的客户的LIBS测量准确且可重复，使用J200 LIBS仪器进行可重现的测量以实现可靠的质量控制，ASI技术确保准确性和可重复性达到提高LIBS数据精度的关键仪器要求之一是始终如一的激光聚焦到样品表面，优化的等离子光收集J200 LIBS采用*特的聚光光学设计，可将较大量的等离子光耦合到检测器模块，此功能可实现合适优秀的灵敏度以及性能。