J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统

J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统能够快速而准确地识别复杂的LIBS发射峰。特定的搜索标准(波长范围、元素组、等离子体激发状态)可以用来在短时间内缩小搜索范围。TruLIBS?允许用户从Axiom LA软件直接加载实验库LIBS光谱来识别和标记峰值，通过将多个硬件指令组合在一起，并及时对它们进行排序，Axiom LA创建了一个存储“方案”。方案一经创建，之后就可以将它们调出，并将它们组合，以提供高度自动化的检测体验。我们只需“调出”整个方案以重复实验，或者复制方案的一部分，将其与新的指令结合起来，以解决新的采样方案。
设备特点：
1、多功能取样方法：全分析、微区&夹杂物分析，深度分析和元素成像；
2、双路高精度数字质量流量控制器和电子控制阀门，硬件部件的全面控制与测量自动化；
3、可将LIBS强度和时间分辨的ICP-MS信号转换为选定元素的非常详细的2D/3D图；
4、质谱或两个光谱对各种样品(包括玻璃、油漆、油墨、塑料、地质矿物等)进行分类或鉴别的理想方法；
5、应用光谱Flex样品室带有可互换镶嵌模块，以优化运输气体流量和颗粒冲刷性能。
6、紧凑型微集气管设计，以消除脱气和记忆效应；
7、高硬度Q开关，短脉冲Nd:YAG激光器波长低至213nm。
控制系统：
1、J200气体控制系统使用了两个高精度、数字化质量流量控制器（MFC）和电子控制阀，用于氩气、氦气及补充气体的输送。
2、运输气体和补充气体流向样品室，ICP-MS系统按顺序自动运行，并被精确控制，带来理想的气流，防止等离子体火焰熄灭。预设配置可以选择输送氩气、氦气或补充气体。
J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统用于高效分析LIBS光谱和时间分辨ICP-MS信号，分析人员可以在样本图像上编写任意的激光采样模式的程序，包括光栅线、曲线、随机点、任意大小的网格和预先编程的图案，能够快速而准确地识别复杂的LIBS发射峰。特定的搜索标准(波长范围、元素组、等离子体激发状态)可以用来在短时间内缩小搜索范围。TruLIBS?允许用户从Axiom LA软件直接加载实验库LIBS光谱来识别和标记峰值。